MICROANALYZERS USING SECONDARY ION EMISSIONSLODZIAN G.1980; ADV. ELECTRON. ELECTRON. PHYS., SUPPL.; USA; DA. 1980; NO 13; SUPPL.; PP. 1-44; BIBL. 36 REF.Article

UNE OPTIQUE DE TRANSFERT POUR LE MICROANALYSEUR IONIQUESLODZIAN G.1978; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FRA; DA. 1978; VOL. 3; NO 5; PP. 447-449; ABS. ENG; BIBL. 2 REF.Article

QUELQUES RESULTATS D'ANALYSE QUANTITATIVE SUR DES SILICATES.SLODZIAN G; HAVETTE A.1977; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FR.; DA. 1977; VOL. 2; NO 1; PP. 81-85Article

CAESIUM FLOODING ON METAL SURFACES AND SPUTTERED NEGATIVE ION YIELDS.BERNHEIM M; SLODZIAN G.1977; J. PHYS., LETTRES; FR.; DA. 1977; VOL. 38; NO 15; PP. 325-328; ABS. FR.; BIBL. 9 REF.Article

UTILISATION DU MICROANALYSEUR IONIQUE EN GEOCHIMIE. APPLICATION A LA METEORITE DE JUVINAS.JEROME DY; SLODZIAN G.1971; BULL. SOC. FR. MINERAL. CRISTALLOGR.; FRA; 1971, VOL. 94, NUM. 0005-0006, P. 538 A 548Miscellaneous

REMARQUES SUR LES ABERRATIONS DES LENTILLES ELECTROSTATIQUES UNIPOTENTIELLES ACCELERATRICES.SLODZIAN G; FIGUERAS A.1978; J. PHYS., LETTRES; FR.; DA. 1978; VOL. 39; NO 7; PP. 90-93; ABS. ANGL.; BIBL. 6 REF.Article

UTILISATION DU MICROANALYSEUR IONIQUE EN GEOCHIMIE. APPLICATION A LA METEORITE DE JUVINAS.JEROME DY; SLODZIAN G.1971; BULL. SOC. FR. MINERAL. CRISTALLOGR.; FRA; 1971, VOL. 94, NUM. 0005-0006, P. 538 A 548Miscellaneous

EXPERIMENTAL PROCEDURES FOR QUANTITATIVE ANALYSIS OF SILICATE MINERALS = PROCEDES EXPERIMENTAUX POUR L'ANALYSE QUANTITATIVE DE MINERAUX SILICATESHAVETTE A; SLODZIAN G.1982; SPRINGER SER. CHEM. PHYS.; ISSN 0172-6218; DEU; DA. 1982; VOL. 19; PP. 288-291; BIBL. 5 REF.; TABL.Conference Paper

MATRIX EFFECTS IN SECONDARY ION EMISSION: QUANTITATIVE ANALYSIS OF SILICATESHAVETTE A; SLODZIAN G.1980; J. PHYS., LETTERS; FRA; DA. 1980; VOL. 41; NO 10; PP. 247-250; ABS. FRE; BIBL. 11 REF.Article

EFFECTS DE MATRICE EN EMISSION IONIQUE SECONDAIRE: ANALYSE QUANTITATIVE DES MINERAUX SILICATESHAVETTE A; SLODZIAN G.1980; C.R. HEBD. SEANCES ACAD. SCI., SCI. B; ISSN 0302-8437; FRA; DA. 1980; VOL. 290; NO 3; PP. 51-54; ABS. ENG; BIBL. 10 REF.Article

SIMS - Secondary Ion Mass SpectrometrySLODZIAN, G.Le Vide (1995). 1999, Vol 54, Num 292, issn 1266-0167, 129 p.Serial Issue

SUR LA MESURE DES RAPPORTS D'EMISSION DE DIFFERENTS ELEMENTS AVEC L'ANALYSEUR IONIQUE MUNI D'UN DEFLECTEUR ELECTROSTATIQUEDENNEBOUY R; SLODZIAN G.1978; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FRA; DA. 1978; VOL. 3; NO 5; PP. 451-455; ABS. ENGArticle

An electron mirror configuration for regulating the potential on insulators in ion emission microscopySLODZIAN, G.Optik (Stuttgart). 1987, Vol 77, Num 4, pp 148-155, issn 0030-4026Article

ANALYTICAL MICROSCOPY BY SECONDARY ION IMAGING TECHNIQUESCASTAING R; SLODZIAN G.1981; J. PHYS. E; ISSN 0022-3735; GBR; DA. 1981; VOL. 14; NO 10; PP. 1119-1127; BIBL. 2 P.Article

OBSERVATION DES IMAGES DONNEES PAR L'ANALYSEUR IONIQUE AU MOYEN D'UNE GALETTE DE MICROCANAUXCHAINTREAU M; SLODZIAN G.1978; J. MICR. SPECTROSC. ELECTRON.; FRA; DA. 1978; VOL. 3; NO 5; PP. 457-462; ABS. ENGArticle

LATTICE INFLUENCE ON ION EMISSION UNDER OXYGEN BOMBARDMENT.BERNHEIM M; SLODZIAN G.1976; INTERNATION. J. MASS SPECTROM. ION PHYS.; NETHERL.; DA. 1976; VOL. 20; NO 2-3; PP. 295-304; BIBL. 21 REF.Article

ETUDE DE QUELQUES ECHANTILLONS D'OKLO PAR ANALYSE IONIQUESLODZIAN G; HAVETTE A.1974; COMMISSAR. ENERG. ATOM., BULL. INFORM. SCI. TECH.; FR.; DA. 1974; NO 193; PP. 81-86; BIBL. 6 REF.Article

EFFET ISOTOPIQUE SUR LES PROBABILITES D'IONISATION EN EMISSION IONIQUE SECONDAIRESLODZIAN G; LORIN JC; HAVETTE A et al.1980; C.R. HEBD. ACAD. SCI., SCI. B; ISSN 0302-8437; FRA; DA. 1980; VOL. 291; NO 4; PP. 121-124; BIBL. 6 REF.Article

SUR LA FORMATION RETARDEE D'IONS A L'EXTERIEUR D'UNE CIBLE SOUMISE A UN BOMBARDEMENT IONIQUEBERNHEIM M; BLAISE G; SLODZIAN G et al.1973; INTERNATION. J. MASS SPECTROM. ION PHYS.; NETHERL.; DA. 1973; VOL. 10; NO 3; PP. 293-308; ABS. ANGL.; BIBL. 20 REF.Serial Issue

ISOTOPE EFFECT IN SECONDARY ION EMISSION = EFFET DES ISOTOPES SUR UNE EMISSION D'IONS SECONDAIRESLORIN JC; HAVETTE A; SLODZIAN G et al.1982; SPRINGER SER. CHEM. PHYS.; ISSN 0172-6218; DEU; DA. 1982; VOL. 19; PP. 140-150; BIBL. 36 REF.; TABL.Conference Paper

ION MICROSCOPY OF CHONDRITIC COMPONENTS; A SEARCH FOR PRECHONDRITIC MATERIALS = MICROSCOPIE IONIQUE DES COMPOSANTS DES CHONDRITES; RECHERCHE DES MATIERES PRECHONDRITIQUESHAVETTE A; LORIN JC; SLODZIAN G et al.1981; METEORITICS; ISSN 0026-1114; USA; DA. 1981; VOL. 16; NO 4; PP. 324; BIBL. 3 REF.Conference Paper

COUCHES FORMEES SUR LE FER, LE NICKEL ET LE CHROME SOUS BOMBARDEMENT IONIQUE EN PRESENCE D'OXYGENE = SCALES FORMED ON FE, NI AND CR WITH ION BEAMS TOGETHER WITH O₂PIVIN JC; ROQUES CARMES C; SLODZIAN G et al.1979; INTERNATION-J. MASS SPECTROM. ION PHYS.; NLD; DA. 1979; VOL. 31; NO 4; PP. 293-310; ABS. ENG; BIBL. 16 REF.Article

EFFETS D'OMBRAGE OBSERVES LORS DE LA RETRODIFFUSION D'IONS LENTS SUR UN CRISTAL METALLIQUE: SIMULATION ET EXPERIENCES = SHADOW EFFECTS OBSERVED DURING SLOW ION BACKSCATTERING ON A METALLIC CRYSTAL: SIMULATION AND EXPERIMENTCOUDRAY C; BERNHEIM M; SLODZIAN G et al.1982; JOURNAL DE MISCROSCOPIE ET DE SPECTROSCOPIE ELECTRONIQUES; ISSN 0395-9279; FRA; DA. 1982; VOL. 7; NO 5; PP. 459-475; ABS. ENG; BIBL. 9 REF.Article

ISOTOPIC EFFECT ON THE IONIZATION PROBABILITIES IN SECONDARY ION EMISSION = EFFET ISOTOPIQUE SUR LES PROBABILITES D'IONISATION DANS L'EMISSION IONIQUE SECONDAIRESLODZIAN G; LORIN JC; HAVETTE A et al.1980; J. PHYSIQUE, LETT.; ISSN 0302-072X; FRA; DA. 1980; VOL. 41; NO 23; PP. L555-L558; ABS. FRE; BIBL. 6 REF.Article

PERFORMANCES DE L'ANALYSEUR IONIQUE AVEC SECTEUR ELECTROSTATIQUE ET OPTIQUE DE TRANSFERTHAVETTE A; SLODZIAN G; DENNEBOUY R et al.1978; REUNION ANNUELLE DES SCIENCES DE LA TERRE. 6/1978/ORSAY; FRA; PARIS: SOCIETE GEOL. FRANCE; DA. 1978; PP. 203; 1 ILL.Conference Paper